智慧財產權月刊 207期

3 /132

編者的話
105.03 智慧財產權月刊 VOL.207 3
編者的話
਷ყɪ࿁׵ਖ਼лᄲݟʘ޴ᗫ ج஝ၾྼਕdڐ ϋԸጐ฽రӋሜձʷၾɓ ߧʷd
޴༰ʘɨd࿁׵ਖ਼лڧᛆʘкᓙࡡۆၾ˙όd޴ᗫ஝ᇍၾ̡جྼਕۍʥ޴຅ʱ؜d
ৰəɽ௔ࠈ৫ج ֛ૢΐόʘࠠᓃ஝ᇍ̮dуԴν༶Ъϓᆞʘߕ਷d͵සϞਖ਼࢕ኪ
٫ᅠᄳԶج ֜א௑ᄲྠਞϽʘᅁ׌ܸˏfΪϤdҢ਷૧ᄁɓԈ༆Ͼࠈ֛ɓࢁ̙Զ
৫جeᛠ֛ዚ࿴ʿ޴ᗫุ٫ਞϽʘ ڧᛆкᓙਿ๟ࠅאᓃdྼމɓɽܿ኷f͉˜ਖ਼
ᕚ˜專利侵害鑑定要點之修訂™dఱ຾᏶௅౽ᅆৌପ҅อࠈʘ 2016 ϋਖ਼лڧᛆ
кᓙࠅᓃdᔊ ࠅႭ׼ࡌ͍ᇝ͟ʿཀ೻ʕ הਞϽٙкӔdಂૐϞп׵΢ޢଣ༆ਖ਼л
ٙڧᛆʱؓeкᓙd˸л׵˚ܝਖ਼л ڧᛆنதʘආБf
຾᏶௅ʕ̯ᅺ๟҅׵ 1996 ϋ 1 ˜ࠈ֛˜ਖ਼лڧ࢔ᛠ֛ਿ๟™dዝ຾εϋܝd
͟׵ج ஝ᜊਗʿପุҦஔ௴อdՉʕ௅ʱlz࢙ʊϞʔԑdאϞʔΥࣛ֝ʘஈdᗭ
˸Ꮠ˹ྼყცӋdࠖቊุ ޢʿਖ਼࢕ኪ٫ʘᗫʲfᛡ׵ਖ਼лڧᛆкӔʘҞ஺စආd
౽ᅆৌପ҅ఱ 2004 ϋو ਖ਼лڧ࢔ᛠ֛ ࠅᓃආБΌࠦࡌ ͍dҁϓ 2016 ϋو˜ਖ਼л
ڧᛆкᓙࠅᓃ™f ਖ਼ᕚɓ͟ੵʠ̻΋͛ הഹʘ˜專利侵害鑑定要點之修訂—發明
新型篇™০࿁೯׼ʿอۨਖ਼л௅ʱdԱኽਖ਼лڧᛆкᓙʘ˴ࠅӉ᜷ݴ ೻dʱйႭ
׼Ң਷˜ਖ਼л ڧ࢔ᛠ֛ ࠅᓃ™ʘࡌ͍ࠠᓃdԨઞী޴ᗫྼਕ዁Ъਪᕚf
ਖ਼ᕚɚ͟໢ࡪၪ΋͛הഹʘ˜專利侵害鑑定要點之修訂—設計篇™΋ᔊࠅႭ
׼อeᔚو͉ணࠇਖ਼лʘڧᛆкᓙ ݴ೻dΎ˸ࡾʿɾग़ࣩᄻ૝อ጑तᅄᏨ಻جʘ
ଣ͟Ⴍ׼ࡌ ͍͉ᛠ֛ࠅᓃʘϽඎdΎ஼Ӊක࢝ᓒʿண ࠇਖ਼лᛆᇍఖʘᆽ֛eڧᛆ
кᓙ˴᜗ʿɧ˙ˢ࿁ٙкᓙ˙ج ഃd௰ܝႭ׼͏਷ 102 ϋ 1 ˜ 1 ˚ࡌ ͍݄Бʘਖ਼
лجᓒɽڭᚐٙ௅ʱணࠇeྡ྅ணࠇeϓଡ଼ணࠇʿࠃ ͛ணࠇഃணࠇ ਖ਼лٙڧᛆк
ᓙlz࢙f
1980 ϋ˾dᆄݲႡᖹʈุɽᅀ࿀ᙂᐏ੻ɪ̹ᔼᖹۜ஢̙ཀ೻ʕdᗫ׵ݟ᜕೮
া஝֛ʘࠅӋ౤৷dආϾԴ੻ᔼᖹۜʿ༵ᖹۜਖ਼лʘϞࣖڭᚐಂග൳Ը൳೵f މ
໾Ꮅਖ਼лᛆɛ׵ਖ਼лڭᚐಂගΪ̀඲՟੻ִ݁ɪ̹ᔼᖹۜ஢̙ٙࣛගฦ̰d1992
ϋᆄຑ᜗ӻቇ͜ʘ໾̂ڭᚐᗇࣣՓ کܓ͍όˏආd௰ܝ ׵ 2009 ϋՓ֛ Regulation