微型電阻檢測裝置及檢測方法
專利資料
專利公告號 I640409 公告日 西元 2018 11 11
發明/創作名稱 微型電阻檢測裝置及檢測方法
英文專利名稱 MICRO RESISTANCE INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD THEREOF
申請號 106125959 申請日 西元 2017 8 1
證書號 I640409 專利權到期日 西元 2037 7 31
專利類型 發明 公報卷/期 輯 / 第45 卷 / 第32
國際分類號 B25J-013/08(2006.01);G01R-001/02(2006.01);G01R-027/02(2006.01) 產業別 電力、量測、光及儲存裝置類
專利特點概述
一種微型電阻檢測裝置及檢測方法,該檢測裝置包含一基座、一機械手臂、一檢測座、一驅動機構、一探針座組及數個顯微影像裝置。該機械手臂裝設於該基座上。該檢測座連接該機械手臂,並可受該機械手臂驅動產生位移。該探針座組裝設於該檢測座底部,並包括兩相對設置的探針座及設在該兩探針座上的一對探針,至少一探針座連接該驅動機構,並受該驅動機構控制而改變該兩探針座之間距。該數個顯微影像裝置用以辨識一待測的微型電阻載板的微型電阻的相對位置及印刷偏移角度,使該機械手臂據以調整該對探針的檢測位置。
發明圖式/照片
圖例1-微型電阻檢測裝置及檢測方法
圖例2-微型電阻檢測裝置及檢測方法
圖例3-微型電阻檢測裝置及檢測方法
聯絡人資料
發明人姓名 蔡宜興
發明人E-mail yishingt@gmail.com
專利權人姓名 蔡宜興
專利權人住址 高雄市苓雅區建民路140號6樓之3
專利權人E-mail yishingt@gmail.com
合作開發方式
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