粒徑檢測器
專利資料
專利公告號 M461781 公告日 西元 2013 9 11
發明/創作名稱 粒徑檢測器
英文專利名稱
申請號 102205708 申請日 西元 2013 3 28
證書號 M461781 專利權到期日 西元 2023 3 27
專利類型 新型 公報卷/期 輯 / 第40 卷 / 第26
國際分類號 G01B-009/00(2006.01) 產業別 電力、量測、光及儲存裝置類
專利特點概述
一種粒徑檢測器,包含底座與配重裝置;該底座表面設有導軌,導軌連接有位移座,位移座置放有檢測台,檢測台上表面形成有抵持面,檢測台於抵持面表面凹設有樣品槽;該配重裝置設有導柱,導柱安裝於底座之上表面,導柱上連接有定位件,定位件沿導柱上下位移,定位件上設有刮板,刮板具有位移部,位移部下方連接有刮刀,刮刀露出於定位件下表面,刮刀末端低於檢測台之抵持面,且刮刀正對導軌,讓具有待測物料的檢測台沿滑軌水平方向移動時,因刮刀為利用重力而產生均勻之下壓力,可對檢測台上之多餘待測物料準確刮除,大幅提升粒徑檢測與量測時的精度與準度。
發明圖式/照片
圖例1-粒徑檢測器
圖例2-粒徑檢測器
聯絡人資料
發明人姓名 邱昱樸
發明人電話 0935315534
發明人E-mail mogrlchiu@gmail.com
專利權人姓名 邱昱樸
專利權人電話 0935315534
專利權人住址 桃園市桃園區國際路二段91號
專利權人E-mail mogrlchiu@gmail.com
合作開發方式
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