粒徑檢測器
專利資料 | |||
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*專利公告號 | M461781 | 公告日 | 西元 2013 年 9 月 11 日 |
*發明/創作名稱 | 粒徑檢測器 | ||
英文專利名稱 | |||
申請號 | 102205708 | 申請日 | 西元 2013 年 3 月 28 日 |
證書號 | M461781 | 專利權到期日 | 西元 2023 年 3 月 27 日 |
專利類型 | 新型 | 公報卷/期 | 第 輯 / 第40 卷 / 第26 期 |
國際分類號 | G01B-009/00(2006.01) | 產業別 | 電力、量測、光及儲存裝置類 |
專利特點概述 |
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一種粒徑檢測器,包含底座與配重裝置;該底座表面設有導軌,導軌連接有位移座,位移座置放有檢測台,檢測台上表面形成有抵持面,檢測台於抵持面表面凹設有樣品槽;該配重裝置設有導柱,導柱安裝於底座之上表面,導柱上連接有定位件,定位件沿導柱上下位移,定位件上設有刮板,刮板具有位移部,位移部下方連接有刮刀,刮刀露出於定位件下表面,刮刀末端低於檢測台之抵持面,且刮刀正對導軌,讓具有待測物料的檢測台沿滑軌水平方向移動時,因刮刀為利用重力而產生均勻之下壓力,可對檢測台上之多餘待測物料準確刮除,大幅提升粒徑檢測與量測時的精度與準度。 |
發明圖式/照片 | ||
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聯絡人資料 | |||
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*發明人姓名 | 邱昱樸 | ||
發明人電話 | 0935315534 | ||
發明人E-mail | [email protected] | ||
*專利權人姓名 | 邱昱樸 | ||
專利權人電話 | 0935315534 | ||
*專利權人住址 | 桃園市桃園區國際路二段91號 | ||
專利權人E-mail | [email protected] |
合作開發方式 |
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進一步接洽 | |
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