智慧財產權月刊301期

113.1 智慧財產權月刊 VOL.301 91 專利分析之申請流向圖應用與分析 ──以寬能隙半導體元件為例 論述 專利分析之申請流向圖應用與分析 —以寬能隙半導體元件為例 陳建翰 * 、許哲瑋 ** * 作者現為財團法人專利檢索中心人員。 ** 作者現為財團法人專利檢索中心人員。 本文相關論述僅為一般研究探討，不代表本局及任職單位之意見。 壹、前言 貳、專利檢索及分析方法 一、確認主題 二、專利檢索 參、寬能隙半導體元件之專利申請趨勢與申請流向分析 一、專利家族與家族成員趨勢分析 二、主要專利申請國家／地區分析 三、專利家族申請流向分析 四、臺灣申請人專利家族申請流向分析 肆、結論